简介：1. 统一的硬件架构，支持终端产品的高精度尺寸测量 。 2. 双相机标定尺寸测量+亚像素算法，重复测量精度高达到5um 。 3. 多工位异步测试，提高一倍的效率。 4. 视觉引导XYθ平台自动对位，保证测量点位一致性，提高测量系统稳定性。 5. 归一化治具，兼容8寸及8寸产品以下尺寸测量。 6. 测试项名称：TP屏外长、TP屏外宽、A壳Housing内长、A壳Housing内宽、SIM卡托尺寸 。